干涉式同軸 3D 位移測量儀 WI-5000 系列

僅需短短0.13秒即可 高精度測量8萬點的高度

WI-5000 系列 - 干涉式同軸 3D 位移測量儀

WI-5000 系列干涉式同軸3D位移測量儀最快僅需 0.13 秒，即可捕捉到最大尺寸為 10×10 mm的目標區域的三維圖像。該傳感器能同時記錄目標表面 80,000 個高度數據點，擁有超大檢測范圍（最大可達 10 × 10 mm），可瞬間測量面粗糙度（Sa、Sz）和線粗糙度（Ra、Rz），并在線識別是否為良品。WI-5000 系列應用白光干涉技術，能夠有效應對鏡面、透明與深色材料表面的測量挑戰，顯著提升復雜材質下的測量效率。該傳感器由于采用同軸測量，可有效減少溝槽及其他高度急劇變化的形狀中無法進行精準測量的盲區。為了用于離線檢測，備有可固定測量頭的專用底座,只要使用位置補正功能，即可無需繁瑣的定位，實現僅需放置就能完成的檢測。

產品特性

并非以點線測量，而是以“面”進行測量

針對最大 10 × 10 mm 的測量區域，可瞬間獲取 8 萬個點的高度。?由于采用白光干涉原理，不受材質/顏色、死角的影響，實現了微米級的高精度測量。

在線實現高速全數檢測

測量多點時，需要高精度且高速掃描目標物。 因此，會將時間浪費在移動載物臺上，不易進行全數檢測。?由于 WI-5000 系列是以面進行同時測量，因此可大幅縮短測量時間，實現全數檢測。

大幅削減離線檢測工時

為了用于離線檢測，備有可固定傳感器頭的專用底座。 配備可削減檢測工時的各種實用功能。?改善從簡易測量到保存數據等各種情況的可操作性。